解析技術
最先端メモリ製品の製造工程での不良品やお客様のもとで発生した不良品の解析を行っています。
高品質、高性能、そして最先端のメモリ製品を世の中に提供するためには、不良品の解析を行い不良原因を解明し、製品の設計工程や製造プロセス工程へ早期にフィードバックすることは欠かせません。我々は、製品開発と密着し、製品開発段階での問題を解決するための不良品の解析、また、お客様の工程で発生した不良品の解析を行っています。
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製造工程の不良解析
- Wafer工程での不良品解析
- パッケージ組み立て後の不良品解析
- 製品の品質確認工程での不良品解析
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戻入品の不良解析
- お客様の組立工程で発生した不良品解析
- エンドユーザー様が使用中の不良品解析
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電気特性解析(EFA)
- ■卓上テスタ
- ■システム評価用ホスト
- ■オシロスコープ
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不良箇所の特定
- ■エミッション顕微鏡
- ■OBIRCH装置
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形状観察/物理解析
- ■X線観察
- ■SEM/TEM観察 *他社依頼