仕事と人
キオクシアシステムズの製品開発を支える、
多様な職種の仕事と社員をご紹介します。
メモリシステム評価技術
最先端メモリ製品やNAND/BiCS FLASH™を応用した
幅広い製品の開発評価を行っています。
携帯機器、SSDなどに使用されるNAND型フラッシュメモリの評価・開発を行っています。今後、ますます大容量化が進むNAND型フラッシュメモリの評価・解析やメモリコントローラを搭載したメモリシステムの評価、および評価装置の開発に至るまで幅広い評価・開発を行っています。
評価解析
メモリシステム評価技術
メモリ設計技術
最先端のメモリ設計技術とリソグラフィー技術で、高機能・高性能メモリ製品を設計・開発していきます。
スマートフォン、デジタルカメラ、SSD、自動車、医療機器など、あらゆるアプリケーションに使用されるメモリ製品の設計・開発を担っています。
フロントエンドからバックエンドまで幅広い設計業務を担当しており、最先端技術による高機能および高性能メモリ製品のスピーディな設計・開発を実現しています。
また、最先端の微細加工をOPC(Optical Proximity Correction)等の超解像技術にて実現し、あらゆるニーズに対応したフォトマスクデータ生成のソリューションを提供しています。
メモリ設計技術
メモリコントローラ開発
ハードウェア、ソフトウェア設計技術を駆使し、時代のニーズ
(高速化・大容量化)に対応した最先端のメモリコントローラを開発しています。
スマートフォンに代表される組込み製品などでは、ユーザ使用容量の拡大に伴い、フラッシュメモリの大容量化・高速化が要求され、メモリコントローラの重要性は益々増大しています。ハードウェアとファームウェアが協調し、強固なエラー訂正(ECC)や、書き換え回数の平均化(Wear Leveling)、データの高速化手法など、最先端技術を用いてフラッシュメモリの価値を最大限に高めるメモリコントローラを開発していきます。
メモリコントローラ開発
解析技術
最先端メモリ製品の製造工程での不良品やお客様のもとで発生した不良品の解析を行っています。
高品質、高性能、そして最先端のメモリ製品を世の中に提供するためには、不良品の解析を行い不良原因を解明し、製品の設計工程や製造プロセス工程へ早期にフィードバックすることは欠かせません。我々は、製品開発と密着し、製品開発段階での問題を解決するための不良品の解析、また、お客様の工程で発生した不良品の解析を行っています。
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電気特性解析(EFA)
- 卓上テスタ
- システム評価用ホスト
- オシロスコープ
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不良箇所の特定
- エミッション顕微鏡
- OBIRCH装置
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形状観察/物理解析
- X線観察
- SEM/TEM観察 *他社依頼
解析技術
SSD技術
経験豊富なモノづくり技術力と品質力を駆使して、
SSD (ソリッド・ステート・ドライブ) の生産性と品質を支えています。
最先端の技術革新を実現するために挑戦し続けています。
高密度、薄型、小型化を追求した製品化のために、様々な要素技術を開発し、設計から評価、検証、改善までのプロセスを繰り返すことで、安定した生産性と高品質を実現しています。
- SSD製品 開発試作
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- 生産プロセス技術開発
- 要素技術開発
- プリント基板実装・製品組込
- SSD製品 評価
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- FW評価・テスト開発
- 信頼性評価・検証
